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第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
QP3000

適用於8、12″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動(dòng)探針測(cè)試。 自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。 全自動(dòng)CCD視覺對(duì)針定位。 高精度定位平臺(tái)。 支援常高溫測(cè)試。 即時(shí)產(chǎn)生Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232介面。



高精度定位

模組化設(shè)計(jì)

優(yōu)秀的振動(dòng)抑制

與溫控效能

自動(dòng)化測(cè)試能力

型號(hào) QP3000
產(chǎn)品介紹 適用於8、12″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動(dòng)探針測(cè)試。 自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。
功能 ? 全自動(dòng)CCD視覺對(duì)針定位。
? 高精度定位平臺(tái)。
? 支援常高溫測(cè)試。
? 即時(shí)產(chǎn)生Mapping顯示Bin。
? 通用GPIB、TTL、R-232介面。



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