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第三代

電晶體測(cè)試家族

Third generation semiconductor testing family

首頁產(chǎn)品中心電晶體測(cè)試

分類

IC測(cè)試系統(tǒng)

QT-8100 數(shù)?；旌螴C測(cè)試系統(tǒng) (Cable-Mount)

QT-8200 Pro 數(shù)?；旌?IC 測(cè)試系統(tǒng) (Hard-Docking)

QT-8600RF 混合訊號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)
功率模組及器件測(cè)試系統(tǒng)

QT-8400D 功率元件多Site測(cè)試系統(tǒng)

QT-8400GaN 氮化鎵測(cè)試系統(tǒng)

QT-8409PIM 高功率動(dòng)靜態(tài)綜合測(cè)試系統(tǒng)

QT-8409IPM 智慧功率模組測(cè)試系統(tǒng)
分立器件高速測(cè)試系統(tǒng)

QT-6000 分立元件高速測(cè)試系統(tǒng)

QT-8404D 功率器件高速測(cè)試系統(tǒng)
功率器件測(cè)試系統(tǒng)

QT-4100 綜合測(cè)試系統(tǒng)

KGD（Known Good Die）測(cè)試解決方案

QT-DRM101000 氮化鎵動(dòng)態(tài) RDON

QT-3108 SW IGBT/SIC 動(dòng)態(tài)測(cè)試

QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試

QT-3102 熱阻測(cè)試儀

QT-3107 LCR RG/CG 測(cè)試

QT-3105 TRR 二極體反向恢復(fù)測(cè)試

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