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第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁(yè) 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
分類
QT-DRM101000 氮化鎵動(dòng)態(tài) RDON

適用於氮化鎵動(dòng)態(tài)RDON參數(shù)測(cè)試。 可以跟QT-4100，QT-6000，QT-8000搭配組成測(cè)試方案



支援硬切/軟切

支援電阻/電感負(fù)載

硬切<1us

多重脈衝輸出

型號(hào) QT-DRM101000
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

QT-DRM101000適用於氮化鎵動(dòng)態(tài)RDON參數(shù)測(cè)試。 可以跟QT-4100，QT-6000，QT-8000搭配組成測(cè)試方案

主要特點(diǎn)

? 支援FT 或者CP，實(shí)驗(yàn)室，量產(chǎn)測(cè)試

? 硬切和軟切，硬切可以滿足<1uS 測(cè)量RDON

? 輸出能力10A/1000V