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第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 分立器件高速測試系統(tǒng)
分類
QT-6000 分立元件高速測試系統(tǒng)

QT-6000分立器件高速測試機，適用於測試中小功率二極體、三極管、MOS等產(chǎn)品，可拓展內(nèi)寘電容（DC+CAP）、EAS、Vc、pA模塊，也可擴(kuò)展外掛LCR（超高精度電容測試）、Scanbox等，應(yīng)用於晶圓、FT量產(chǎn)或?qū)嶒炇覝y試。



懸浮電源

四象限電路

高速測試

支援多種擴(kuò)展

型號 QT-6000
產(chǎn)品優(yōu)勢 ? QT-6000分立器件高速測試機，具備測試精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強等效能優(yōu)點
? 採用四象限電路，可以很好的保護(hù)被測元件。
? 採用懸浮電源和全對稱結(jié)構(gòu)。
? 高速測試滿足UPH56K以上的分選機。
主要特點 ? 高速測試， UPH>40K
? 可一拖二實現(xiàn)100% FT+QA並行測試
? 先進(jìn)的電容高速測試方案，實現(xiàn)CAP+DC同工位測試
? 內(nèi)寘UIS測試方案，實現(xiàn)DC+UIS同工位測試
? LCR精準(zhǔn)電容測試，最小測試電容值100fF
? 電壓/電流（可選）：1200V/600V，30A/10A/3A






Testing standards檢測標(biāo)準(zhǔn)