精品日本一区二区三区免费,国产精品一卡2卡三卡4卡,亚洲综合av色婷婷国产野外,久久人人爽人人爽人人片av高请

第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
QP3000

適用于8、12″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。 自動上下片，Wafer ID讀取。 全自動CCD視覺對針定位。 高精度定位平臺。 支持常高溫測試。 實時生成Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232接口。



高精度定位

模塊化設計

優(yōu)秀的振動抑制

與溫控性能

自動化測試能力

型號 QP3000
產(chǎn)品介紹 適用于8、12″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。 自動上下片，Wafer ID讀取。
功能 ? 全自動CCD視覺對針定位。
? 高精度定位平臺。
? 支持常高溫測試。
? 實時生成Mapping顯示Bin。
? 通用GPIB、TTL、R-232接口。

Recommend推薦產(chǎn)品